Medalist i1000D


特徴

・Medalist i1000D の性能がさらに向上し、アナログのみのICT からデジタル機能が対応できるようになりました。
・デジタルPCF/VCL ライブラリ・ベースのテスト、バウンダリ・スキャン、I2C/SPI シリアル・プログラミング カバーエクステンドテクノロジー(CET)対応になりました。
・新機能としてバンダリースキャンとVTEPを組み合わせたCET技術により物理的なプローブアクセスなしで、VTEP テストを実行できます。
・プリント基板上のテスト・ポイント数を減少できます。
・VTEP2.0によるテスト・カバレッジの向上もされています。


仕様

Medalist i3070


仕様